WIT-220 矽光晶圓測試探針台（tái）

WIT-220晶圓光電測試探（tàn）針係統（tǒng）綜合考慮穩定性（xìng）、電噪聲處理、空間布局等設計要求，采用精密運動控製係統，高性能隔振係統，結合自主研（yán）發圖（tú）像軟件算法，實現高穩定性小模斑芯片光性能和高精度電性能測試，能夠滿足（zú）高精度光測試指標以及pA/nA微（wēi）信（xìn）號測（cè）量應用要求，可提前在晶圓級別篩選不良芯片，防止流入（rù）後端工藝，節約整體（tǐ）封測成本，提高研發以及生產（chǎn）效率。